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不銹鋼點(diǎn)腐蝕檢測實(shí)驗(yàn)方法有哪些

發(fā)布時間:2021-11-11 訪問量:715次 來源:隱石檢測
不銹鋼點(diǎn)腐蝕檢測實(shí)驗(yàn)方法有哪些,腐蝕科學(xué)在國民經(jīng)濟(jì)中占有重要的地位,這是因?yàn)榻饘俑g直接關(guān)系到人民的生命財產(chǎn)安全,關(guān)系到工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和國防建設(shè)。今天就為大家詳細(xì)講解下應(yīng)力腐蝕檢測相關(guān)內(nèi)容。

不銹鋼點(diǎn)腐蝕檢測實(shí)驗(yàn)方法有哪些

晶間腐蝕:金屬材料在特定腐蝕介質(zhì)中沿晶界發(fā)生的局部選擇性腐蝕。晶界是不同晶粒之間的邊界。由于晶粒有不同的取向,原子在結(jié)處的排列必須逐漸從一個取向轉(zhuǎn)變?yōu)榱硪粋€取向。因此,晶界實(shí)際上是一種“表面”不完整的結(jié)構(gòu)缺陷。由于晶格畸變的增加,晶界處原子的平均能量高于晶內(nèi)。較高的能量稱為晶界能。純金屬晶界在腐蝕介質(zhì)中的腐蝕速率比晶體的腐蝕速率快,這是因?yàn)榫Ы绲哪芰扛撸犹幱诓环€(wěn)定狀態(tài)。


根據(jù)稀釋理論,晶間腐蝕是由于組件的稀釋晶界由于容易沉淀的第二階段的晶界(1)奧氏體不銹鋼,鉻缺乏是由于晶界Cr23C6階段的降水,(2)對于Ni Mo合金,ni7mo5在晶界處析出,鉬在晶界處含量較低;(3)對于銅鋁合金,CuAl2在晶界處析出,導(dǎo)致晶界處銅含量較低。


P. Si、B等雜質(zhì)元素沿晶界偏析引起的非敏化晶間腐蝕只是晶界與晶體間形成化學(xué)濃度差而引起的簡單電化學(xué)腐蝕過程,或者是偏析導(dǎo)致的晶界耐蝕性下降,或者還有其他因素,需要進(jìn)一步探討。


不銹鋼點(diǎn)腐蝕檢測實(shí)驗(yàn)方法有哪些

由于鉻在鐵素體中的遷移速度遠(yuǎn)快于奧氏體不銹鋼,即使在高溫下迅速冷卻,也會析出碳化物,造成鉻貧區(qū)和晶間腐蝕。而在700 ~ 800℃退火時,亞穩(wěn)相cr23c3轉(zhuǎn)變?yōu)榉€(wěn)定相Cr23C6,使鉻分布趨于均勻,消除了晶間腐蝕的傾向。


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